布鲁克D8 X射线衍射仪介绍

一、仪器照片

二、基本信息

品牌：布鲁克（Bruker）

型号：D8

仪器类型：多功能X射线衍射仪（XRD）

应用领域：广泛应用于材料科学、冶金工程、化学化工、地质矿产、生物医药等领域，可实现粉末样品的物相定性与定量分析、晶体结构解析、晶粒尺寸与晶格应变测定、取向度分析等，适配高校科研实验室、科研院所、质量检测机构及各类工业企业的材料表征与质量管控需求。

三、主要特点

1. 光源性能稳定：采用高性能Cu靶X射线源，具备高亮度、高稳定性的辐射输出，搭配先进的光学聚焦系统，可有效提升衍射信号强度与信噪比，保障弱衍射信号样品的测试精度。

2. 测角精度优异：配备高精度θ-2θ联动测角仪，采用密闭式设计与精密驱动系统，测角精度高、重复性好，可实现宽范围、高精度的衍射扫描，满足不同分辨率需求的测试场景。

3. 测试功能多样：支持粉末衍射、薄膜衍射、小角散射等多种测量模式，可适配不同形态样品（粉末、块状、薄膜、纤维等）的测试需求，拓展了仪器的应用范围。

4. 自动化程度高：搭载智能化操作软件与自动样品台，可实现样品自动定位、测试参数自动优化、数据自动采集与分析，大幅降低操作门槛，提升测试效率；同时支持多样品连续测试，适配批量样品分析需求。

5. 运维便捷：仪器光学系统与机械结构稳定性强，维护周期长，日常运维简单；软件界面友好，具备完善的数据处理与报告生成功能，便于用户快速完成测试与结果输出。

四、技术参数

1. X射线源：Cu靶，管电压范围30 kV ~ 60 kV，管电流范围5 mA ~ 80 mA，最大功率4.8 kW；可选配Co、Fe、Mo等其他靶材。

2. 测角仪参数：θ-2θ扫描模式，2θ扫描范围0° ~ 163°（可扩展至170°），测角精度≤0.0001°，重复精度≤0.001°。

3. 扫描速度：0.001°/step ~ 20°/min，支持连续扫描与步进扫描两种模式，扫描步长可精准调节。

4. 分辨率：在Cu Kα1线（λ=1.5406 Å）下，2θ=28.7°时，半高宽（FWHM）≤0.1°（标准样品α-Al₂O₃）。

5. 样品台参数：自动样品台，承载样品尺寸最大可达50 mm（直径），支持样品旋转（转速0 ~ 60 rpm），可减少样品取向影响，提升测试均匀性。

6. 探测器：配备高灵敏度 scintillation 探测器（或可选配二维探测器），计数率可达10⁶ cps，具备良好的能量分辨能力。