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【仪器介绍】材料断层扫描结构及测试系统介绍

作者:    信息来源:    发布时间: 2025-12-20

材料断层扫描结构及测试系统介绍

一、仪器照片

   

二、基本信息

品牌:天津三英

型号:nano Voxel 2200pro

仪器类型:材料断层扫描(CT)结构及测试系统

应用领域:适用于材料科学、航空航天、电子制造、汽车工业等领域,可实现金属、复合材料、陶瓷、电子元件等样品的内部结构断层成像、缺陷检测、孔隙分析、结构尺寸测量,适配科研研发与工业质量管控需求。

三、主要特点

1. 高分辨成像:具备纳米级断层扫描能力,可清晰呈现样品微观内部结构,精准识别微小缺陷与孔隙。

2. 扫描范围广:适配多种尺寸样品,支持不同密度材料测试,兼容性强。

3. 扫描高效:采用快速扫描技术与优化成像算法,缩短测试周期,提升批量样品检测效率。

4. 自动化操作:搭载智能控制系统,实现样品定位、扫描参数设置、数据采集与重建全流程自动化,降低人为误差。

5. 数据处理强大:配备专业CT图像分析软件,支持三维重建、结构量化分析与报告自动生成。

四、技术参数

1. 空间分辨率:≤0.5 μm(纳米级)

2. 扫描范围:最大样品尺寸≤100 mm(直径)×150 mm(高度)

3. 射线源:微焦点X射线源,管电压范围40 kV~160 kV,管电流范围10 μA~1000 μA

4. 探测器:平板探测器,像素尺寸≤3.75 μm,动态范围≥16 bit

5. 扫描速度:最快扫描时间≤30 s/幅(单幅投影),三维扫描周期≤10 min

6. 样品台:高精度电动平移旋转台,旋转精度≤0.001°,承载重量≤5 kg

7. 数据处理:支持三维重建、多方位切片分析,可输出孔隙率、缺陷尺寸等量化参数

 

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